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X荧光膜厚仪

简要描述:

X荧光膜厚仪是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子,俗称为二次荧光,,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值,一种无损、快速、精确的膜厚测试仪器,对金属镀层(镀金、镀锡、镀锌、镀铝、镀铅、镀银、镀镍等),广泛应用于电路板、连接器、金属丝、链接插件、引线框架、汽车零部件、半导体、电子产品、五金工具等企业中,打破了国外(例如:德国Fischer)垄断局面,在电镀行业占有 一定地位,为

X荧光膜厚仪产品介绍

 

X荧光膜厚仪是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子,俗称为二次荧光,,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值,一种无损、快速、精确的膜厚测试仪器,对金属镀层(镀金、镀锡、镀锌、镀铝、镀铅、镀银、镀镍等),广泛应用于电路板、连接器、金属丝、链接插件、引线框架、汽车零部件、半导体、电子产品、五金工具等企业中,打破了国外(例如:德国Fischer)垄断局面,在电镀行业占有 一定地位,为企业提供有效解决方案。

 

X荧光膜厚仪技术参数

 

长期工作稳定性高,故障率低。

多变量非线性回收程序

相互独立的基体效应校正模型

元素分析范围从硫(S)到铀(U)中间的任意金属镀层(镀金、镀锡、镀锌等)

一次可同时分析多达五层镀层,快速、准确。

zui薄可测试0.005μm

分析含量一般为2ppm99.9% 

镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)

任意多个可选择的分析和识别模型

度适应范围为15℃30℃

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源

仪器尺寸:576W) x 495 D) x 545H) mm

重量:90 kg

 

性能优势

 

鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点

高分辨率探头使分析结果更加精准

良好的射线屏蔽作用

测试口高度敏感性传感器保护

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

zui小φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光,可自动定位测试高度

定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐

 

检测实例

 

铜镀镍样品

 

X荧光膜厚仪测试谱图

 

样 品 名

成分Ni(%)

镀层Ni(um)

吊扣

100

19.321

吊扣2#

100

19.665

吊扣3#

100

18.846

吊扣4#

100

19.302

吊扣5#

100

18.971

吊扣6#

100

19.031

吊扣7#

100

19.146

平均值

100

19.18314

标准偏差

0

0.273409

相对标准偏差

0

1.425257

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